微觀形貌分析是通過光學顯微鏡、掃描電鏡對樣品的表面、斷口及其它關注截面進行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結構等需要進行高倍觀察的檢測項目。
微觀形貌分普遍應用的主要工具是電子顯微鏡,其中主要是掃描電子顯微鏡(SEM),還有透射電子顯微鏡(TEM)的部分功能。這類儀器是利用電子束作為探針,與被分析樣品發(fā)生相互作用,作用后的電子攜帶著樣品形貌特征的信息,電子顯微鏡使這些信息以放大圖像的形式顯示。
金屬及非金屬類產品
JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
咨詢溝通:確認客戶檢測項目,檢測標準,檢測要求,并填寫測試申請表
提供樣品:樣品可選擇寄送或者上門檢測
簽約付款:確認委托后,安排打款,收款后通知開案
分析測試:根據測試申請表安排測試
出具報告:根據測試申請表及檢測結果出具報告,委托方確認無誤后,檢測報告簽字蓋章
寄送報告:檢測報告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送
增值服務:檢測樣品保留2個月
1.報告權威:具有CMA和CNAS資質,特種設備檢驗檢測核準證書
2.設備先進:擁有業(yè)內專業(yè)檢驗檢測設備300多臺
3.專業(yè)團隊:擁有專業(yè)服務及檢測團隊,業(yè)務覆蓋全國
4.加工中心: 擁有自己的數(shù)控加工中心,滿足不同檢測項目的加工制樣要求