鍍層厚度測量:金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝,提高效益。
鍍層厚度測量:金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝,提高效益。
1、金相法:
采用金相顯微鏡檢測橫斷面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um,才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi);厚度越大,誤差越小。
2、庫侖法:
適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
3、X-ray 方法:
適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。
本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,或同時測量三層組分的厚度和成分。
鍍鎳、鍍鉻、鍍金、鍍錫、鍍銀等金屬鍍層
GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法
ASTM B487-1985(2007) 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法
ISO 1463-2003 金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法
咨詢溝通:確認客戶檢測項目,檢測標(biāo)準,檢測要求,并填寫測試申請表
提供樣品:樣品可選擇寄送或者上門檢測
簽約付款:確認委托后,安排打款,收款后通知開案
分析測試:根據(jù)測試申請表安排測試
出具報告:根據(jù)測試申請表及檢測結(jié)果出具報告,委托方確認無誤后,檢測報告簽字蓋章
寄送報告:檢測報告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送
增值服務(wù):檢測樣品保留2個月
1.報告權(quán)威:具有CMA和CNAS資質(zhì),特種設(shè)備檢驗檢測核準證書
2.設(shè)備先進:擁有業(yè)內(nèi)專業(yè)檢驗檢測設(shè)備300多臺
3.專業(yè)團隊:擁有專業(yè)服務(wù)及檢測團隊,業(yè)務(wù)覆蓋全國
4.加工中心: 擁有自己的數(shù)控加工中心,滿足不同檢測項目的加工制樣要求